Tablero de exploración ASIC de los chips defectuosos del accesorio de prueba de Innosilicon Aladdin T1

Dispositivo de prueba Innosilicon Aladdin T1 para escaneo de chips ASIC y diagnóstico de hashboard

Diagnostique eficientemente los chips defectuosos en sus hashboards Innosilicon Aladdin T1 con este dispositivo de prueba dedicado para escaneo de chips ASIC. Modelo A15 V1.0, esta placa se conecta a las hashboards T1 y escanea cada posición de chip para identificar los circuitos integrados defectuosos que causan la pérdida de la tasa de hash. El dispositivo se envía completo con un cable de datos para uso inmediato: conéctelo, escanee y localice el chip problemático en minutos en lugar de horas.

Especificaciones del dispositivo de prueba Innosilicon T1

Cómo el dispositivo de prueba T1 optimiza el diagnóstico de Hashboard

El Innosilicon T1 (Aladdin) utiliza chips ASIC propietarios que requieren un dispositivo de prueba específico del modelo para un diagnóstico preciso. Esta placa de escaneo A15 V1.0 se comunica directamente con la cadena de chips en las hashboards T1, probando cada IC e informando qué posiciones han fallado. Esto elimina la necesidad de mediciones de resistencia que consumen mucho tiempo o inspección visual bajo un microscopio. Una vez que se identifican los chips defectuosos, se pueden reemplazar utilizando la herramienta de estaño adecuada y el equipo de soldadura para una reparación completa.

Construyendo una configuración completa de reparación de Innosilicon T1

Para un flujo de trabajo completo de reparación de T1, combine este dispositivo de prueba con una herramienta de estaño T1558 para el reballing de chips y chips ASIC T1558/BFL1001 de reemplazo. Tener diagnósticos y herramientas específicos del modelo para cada tipo de minero en su laboratorio reduce drásticamente el tiempo de reparación por unidad y mejora las tasas de éxito en el primer intento. Disponemos de dispositivos de prueba y componentes de reparación para toda la línea de Innosilicon, desde el T1 hasta la última serie A11.

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